[发明专利]半导体组件的制造方法及半导体组件无效

专利信息
申请号: 95192144.4 申请日: 1995-03-17
公开(公告)号: CN1117395C 公开(公告)日: 2003-08-06
发明(设计)人: 福富直树;坪松良明;井上文男;山崎聪夫;大畑洋人;萩原伸介;田口矩之;野村宏 申请(专利权)人: 日立化成工业株式会社
主分类号: H01L23/12 分类号: H01L23/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 黄永奎
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能适应半导体高度集成化的半导体组件基片。在电解铜箔上镀镍层,形成配线,在铜箔上装配LSI芯片,由引线连接LSI端子与配线,并采用环氧树脂密封半导体。用碱腐蚀方法溶解只除去铜箔,露出镍层,在对铜溶解性小的镍剥离液中除去镍层,使配线露出。涂敷焊料保护层,设置图形并使连接端子露出,在该配线露出处溶融配置焊料球,通过焊料球与外部配线板连接。
搜索关键词: 半导体 组件 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体组件制造方法,其特征在于,该制造方法包括步骤:A.在导电性临时支撑体的单面设置配线;B.在设置配线的导电性临时支撑体上已设置配线的一面,形成绝缘性支撑体;C.除去导电性临时支撑体,将配线转印至绝缘支撑体;D.除去预设置配线外部连接端子处的绝缘性支撑体,并设置外部连接端子所用透孔;E.在转印有配线的绝缘性支撑体上装配半导体元件,接通半导体元件端子与配线;G.用树脂密封半导体元件;H.在外部连接端子所用透孔中接通配线,形成外部连接端子。
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