[发明专利]包装薄片折缝位置检测的方法和装置无效
申请号: | 95192733.7 | 申请日: | 1995-03-17 |
公开(公告)号: | CN1047842C | 公开(公告)日: | 1999-12-29 |
发明(设计)人: | 汉斯·阿兰 | 申请(专利权)人: | 泰特拉·勒维尔金融控股公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 陈申贤 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在移动的包装薄片(1)上的横向折缝(2)的位置可被精密地检测出来,办法是将激光器(3)发出的光垂直投射在薄片上并用光电检测器(5)从两个与折缝成横向并与投向薄片的光束成一例如为60°的角度的方向接收从薄片上反射回来的光。从光电检测器发出的电测量信号在一电子信息处理器内与存储在器内并代表参照折缝的参照信号比较。计算测量信号和参照信号的符合程度(相关信号),符合程度达到最大时就是出现折缝的迹象。同理可检测纵向折缝的位置。 | ||
搜索关键词: | 包装 薄片 位置 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种检测移动的包装薄片(1;30;40)或类似物上的折缝(2;32;42)或类似的凸起物的方法,其特征为,该方法包括下列步骤:从包装薄片(1;30;40)和折缝(2;32;42)上反射回来的光(5′)和从一条与反射光成一角度而投向薄片的光束(3′)所发出的光被至少一个光电检测器(5;37;46)接收而产生包装薄片和折缝的电信号或图像;借助于从两个方向来的反射光而产生的两个电信号被结合在一起成为一个测量信号(12),该信号被输入到电子信号处理器(17)内,与原先存储在处理器内的、代表一条参照折缝的参照信号比较;当计算测量信号和参照信号的符合程度而得出的相关信号(13)达到一个最大值时一条折缝(2;32;42)便被指出。
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