[发明专利]检测金属产品表面上开口缺陷的方法和装置无效
| 申请号： | 95197941.8 | 申请日： | 1995-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN1197511A | 公开（公告）日： | 1998-10-28 |
| 发明（设计）人： | M·勒普罗瓦斯特 | 申请（专利权）人： | 联合金属公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 崔幼平,林长安 |
| 地址： | 法国罗*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 利用波长位于可见光两端附近的两束平面相干光(13,14)来检测缺陷。例如,由激光二极管(11,12)产生的两束基本上位于与产品表面(2)相互交的同一平面(P)内的光,这两束光的走向相互倾斜,形成基本相等的入射角(i),以便在该表面上产生唯一的光迹(T)。沿着与该表面相正交的方向(18),在该波长的情况下,例如,利用一个具有线性网格的摄像机(17)来测量沿着该光迹的照度,照度锐减的局部就是缺陷的显示。用于检测连续铸造的未加工金属产品上的气孔或沟槽。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 金属产品 表面上 开口 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.对于象连续铸造的未加工产品这样的金属产品表面(2)上的凹形缺陷(1)进行检测的方法，按照这种方法，使用非零的入射光对此平面进行照明，以便使这种缺陷显示出来，这种缺陷相对于此表面照度呈照度减弱的区域，此方法的特征在于：使用两束波长位于可见光区两端的平面光束(13，14)对此表面进行照明，这两束光位于基本与该表面(2)正交的同一平面(P)内，以便在该表面上产生唯一的光迹(T)，这两束光相互倾斜，形成基本相等的入射角(i)，使用该波长沿着与该表面正交的方向(18)，沿该光迹测量照度，局部的照度锐减就显示缺陷。
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