[发明专利]物质折射率的全反射测量方法与装置无效
| 申请号： | 96102698.7 | 申请日： | 1996-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN1193740A | 公开（公告）日： | 1998-09-23 |
| 发明（设计）人： | 李晖;谢树森;邱怡申;蔡坚勇 | 申请（专利权）人： | 福建师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350007 福建省福州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明基于全反射原理,使用会聚光从折射率已知的半圆柱透镜中入射并聚焦到该透镜与待测的物质的分界面轴线处,由光探测器测量反射光强度或反射率的空间分布,用其中的拐点确定发生全反射的临界角,进而计算出待测物质的折射率。本发明易于用计算机控制和采集并处理数据。当光源在一定光谱范围内扫描时,可以快速得到实测的待测物质色散曲线。本发明适用于研究微量样品的各种材料(包括强散射的生物组织)的折射率性质。 | ||
| 搜索关键词： | 物质 折射率 全反射 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种利用全反射原理测量物质折射率的方法，其特征在于使用会聚光从折射率已知的光学材料中入射并聚焦到该光学材料与折射率待测的物质的分界面上，由反射光强度或反射率的空间分布的拐点确定发生全反射的临界角，进而计算出待测物质的折射率。
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