[发明专利]微控制器功能的测试方法无效
| 申请号： | 96107181.8 | 申请日： | 1996-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1170877A | 公开（公告）日： | 1998-01-21 |
| 发明（设计）人： | 方议谅;余国成 | 申请（专利权）人： | 合泰半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 徐娴 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种微控制器功能的测试方法,主要由测试模式切换寄存器读取由外界输入的指令以选择要测试的模式,测试步骤判断是否进行测试运作,若否则待测元件正常执行所要执行的程序动作,若是则进入外部模式阶段;于外部模式读取由所述测试单元输入的外部指令,以选择执行外部模式的测试,或选择各种测试模式的测试;若选择外部模式的测试,则待测元件将测试单元输入的外部指令解码及执行指令,并将结果送回测试单元;待各项测试步骤完毕后,测试单元输入一外部指令将测试模式切换至所述读应用程序模式,并执行测试;结束测试。 | ||
| 搜索关键词： | 控制器 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种微控制器功能的测试方法，用以执行下述的测试模式，待测元件的测试结果送至一测试单元，测试单元进行比对，所述测试模式包括有：一外部模式，将测试单元输出的外部指令输入至待测元件以选择待测元件的测试路径；一内部模式，接受由所述测试单元输入的外部指令的选择，使待测元件执行其所储存所内建测试程序以进行自我测试；一读应用程序模式，接受由所述测试单元输入的外部指令的选择，读取所述待测元件所储存的应用程序的程序码，以供测试单元进行比对。
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