[发明专利]全切面结玻璃钝化的硅半导体二极管芯片及其制造方法无效

专利信息
申请号: 96107992.4 申请日: 1996-06-05
公开(公告)号: CN1074168C 公开(公告)日: 2001-10-31
发明(设计)人: 戴超智;钟宇鹏;蔡辉正 申请(专利权)人: 智威科技股份有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L21/329;H01L21/316;H01L21/56
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 中国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种具有P-N结全切面钝化玻璃护封的硅半导体二极管芯片,使用钝化玻璃护封层,覆着于芯片的整个P-N结切面,且对每一芯片制备一单独的玻璃护封层体,单独烧结。这种具有P-N结全切面护封的硅半导体二极管芯片,其P-N结全切面全部为钝化玻璃所护封,因而容易获得良好的正向及逆向电气特性、较高的可靠性以及有利于再次加工成形。本发明也提供了一种大量生产具有P-N结全切面钝化玻璃护封的硅半导体二极管芯片的方法。
搜索关键词: 切面 玻璃 钝化 半导体 二极管 芯片 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体二极管芯片组件,包括:一硅半导体二极管芯片;及一钝化玻璃护封件;其特征在于:该钝化玻璃护封件由玻璃粉调制的调剂烧结而成;该半导体二极管芯片的周缘是自N电极面至P电极面,含P-N结层面,为完全切断状态;且该钝化玻璃护封件覆盖于该半导体二极管芯片周缘的全部。
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