[发明专利]用于半导体晶片干燥蚀刻的等离子体加工装置无效
申请号: | 96109855.4 | 申请日: | 1996-09-20 |
公开(公告)号: | CN1078742C | 公开(公告)日: | 2002-01-30 |
发明(设计)人: | 吉田和由 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H05H1/24 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 郑霞,卢纪 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了有一可将电磁波引入反应器中激发等离子体的电介元件的等离子体加工装置。一用于减少等离子体中电容耦合部分并有传导电磁波和加热元件的功能的金属电阻片3埋于电介元件内。本装置通过减少电容耦合来预防电介质元件的溅蚀,控制电介质的加热来抑制电介质上蚀刻物的沉积,缓解了污染粒子的产生,提高了蚀刻条件的稳定。$#! | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 晶片 干燥 蚀刻 等离子体 加工 装置 | ||
【主权项】:
1、一种等离子体加工装置,它包括:一个具有一个将所述的真空反应室的内外隔开的器壁的真空反应容器,所述的器壁有一个电介质部分和一个电接地的导电部分;一个放置在所述的真空反应容器外面并与所述的电介质部分相邻的扁平电线圈;一个借助一个主要的调谐机制为所述线圈提供高频电流的主高频电源;为所述的真空反应容器所述的内部提供多种加工气体的部件;一个置于所述的真空反应容器内的与所述的电介质部分相对的、且其上可固定所加工样品的低电极;一个借助调谐机制向所述的低电极提供高频电压的次高频电源;并具有电磁波传导功能;其特征在于:所述等离子体加工装置还包含:被埋入到所述的电介质部分之内的传导元件;一个借助一能够截止电磁波的滤波器向电磁波传导加热元件提供直流电以使得所述传导元件加热所述电介质部分的直流电源;一种测量所述电介质部分温度的温度测量部件;以及一个基于通过所述温度测量部件测得的所说温度来控制源于直流电源送往所说电磁传导加热元件的直流电的控制器;且所述传导元件具有电磁波传导功能。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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