[发明专利]IC插座测试器无效
| 申请号： | 96110038.9 | 申请日： | 1996-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1140840A | 公开（公告）日： | 1997-01-22 |
| 发明（设计）人： | C·-L·易;S·-Y·张 | 申请（专利权）人： | 惠特克公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王忠忠,叶恺东 |
| 地址： | 美国特*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供评价IC插座电性能的长寿命且价廉的IC插座测试器。IC插座测试器10可测试被测试IC插座60的电性能。该IC插座测试器10具有在两面装有一对IC插座21、22的主PCB20。IC(或CPU)30与一侧的IC插座21相连接。延长PCB50a-50d在其外面具有多条大致平行的导体51，其两端在镀金处理的接触垫片53、54上形成匹配终端，把另一侧的IC插座22与被测试IC插座60的接触端子相互连接。 | ||
| 搜索关键词： | ic 插座 测试 | ||
【主权项】：
1.一种在连接实际的IC前，对IC插座电性能进行测试的IC插座测试器，其特征是：具有其两端用导体垫片形成匹配终端的多条大致平行导体构成的1个以上的电路板；具有连接在该电路板一端的上述导体垫片的IC；可把上述电路板的另一端的上述导体垫片与被测试IC插座连接。
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