[发明专利]包含地址转移检测电路的半导体存储器件无效
申请号: | 96111202.6 | 申请日: | 1996-07-25 |
公开(公告)号: | CN1101587C | 公开(公告)日: | 2003-02-12 |
发明(设计)人: | 谷田进;月川靖彦 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G11C11/407 | 分类号: | G11C11/407 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在地址转移检测电路中,信号转换检测电路分别根据相应地址线的电平变化输出反相的互补时间差信号。波形整形单触发脉冲产生电路接收相应互补时间差信号并输出规定时间宽度的单触发脉冲信号。波形合成电路响应单触发脉冲信号的触发,输出规定脉冲宽度的ATD信号。因此,即使任何信号线的电平有突然的转换,从波形整形单触发脉冲产生电路输出的单触发脉冲宽度也保持不变,并规则地输出具有恒定脉冲宽度的ATD信号。 | ||
搜索关键词: | 包含 地址 转移 检测 电路 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器,包括:包含以矩阵形式排列的多个存储单元的存储单元阵列;根据外部地址信号选择相应一个所述存储单元并根据具有规定脉冲宽度的地址转移检测信号开始读出操作的数据读出装置;接收所述地址信号并传输它到数据读出装置的多条地址信号线;以及检测规定的一个所述地址信号线的电压变化并输出所述地址转移检测信号的地址转移检测装置,所述地址转移检测装置包括:多个信号变化检测装置,每个输出互补的第一个和第二个检测信号,随相应的一个所述规定地址信号线的电压变化而反相,多个脉冲发生装置,每个随相应所述第一个和第二个检测信号的反相而输出具有所述规定脉冲宽度的脉冲信号,以及信号合成装置,其随来自于所述多个脉冲发生装置的任一所述脉冲信号的触发而输出具有所述规定脉冲宽度的所述地址转移检测信号,其特征在于,所述多个信号变化检测装置的每一个都具有彼此交叉耦合的第一个逻辑门电路和第二个逻辑门电路,所述第一个逻辑门电路输入相应的所述规定地址信号线的电位电平,所述第二个逻辑门电路输入将相应的所述规定地址信号线的电位电平反相后的电平,以及所述第一个和第二个逻辑门电路分别输出所述第一个和第二个检测信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社,未经三菱电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/96111202.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。