[发明专利]用于加工工件的光束或射束的检测和定位方法装置无效
| 申请号： | 96112721.X | 申请日： | 1996-10-04 |
| 公开（公告）号： | CN1089284C | 公开（公告）日： | 2002-08-21 |
| 发明（设计）人： | Ｎ·格罗斯;Ｈ·Ｐ·赫尔姆 | 申请（专利权）人： | 埃尔帕特朗尼股份公司 |
| 主分类号： | B23K26/04 | 分类号： | B23K26/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 姜郛厚,萧掬昌 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在用于加工工件的光束或射束(3)的监测和定位方法中，用设在光束或射束前面的第一传感器(7)(在采用光束时是一个接缝检测系统)和/或一个预定值来确定光束或射束(3)应该跟随的路径。用设在光束或射束(3)后面的第二传感器(9)监测光束或射束的位置。把第一传感器(7)获得的与光束或射束的所需位置有关的预定值或是读数与第二传感器(9)获得的与光束或射束(3)的实际位置有关的读数相比较，考虑到光束或射束与工件之间与速度有关的相对位移。在实际位置偏离了所需位置时把光束或射束(3)校正到其基准位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 加工 工件 光束 检测 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.用于加工工件的光束或射束的监测和定位方法，在其中用设在光束或射束前面的至少一个第一传感器和/或一个预定值来确定光束或射束应该跟随的路径，以及设在光束或射束后面的第二传感器，用于监测光束或射束的动作，其特征是：把第一传感器获得的与光束或射束的所需位置有关的读数和/或上述预定值与第二传感器获得的与光束或射束的实际位置有关的读数相比较，考虑到光束或射束与工件之间与速度有关的相对位移，并且在实际位置偏离了所需位置时把光束或射束校正到其基准位置。
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