[发明专利]直接测定多组份的微分谱解谱分析法

摘要

本发明涉及一种直接测定多组份体系而不需分离，运用计算机程序进行微分谱解的分析方法。它可测定在一定范围内具有确定的吸收谱，且在多组份共存时，吸收谱不变的物质。本发明设计范围的程序可与紫外／可见／近红外分光光度计配合使用。本方法分析快捷、准确、简便。

主权项

1．一种直接测定多组份体系的解谱分析法，其特征在于：多组份体系在不需分离状态下，使用计算机程度进行微分谱解谱分析，直接进行测定。该程序可应用测定的被测物为在一定范围内具有确定的吸收谱，且在多组份共存时，吸收谱不变的物质。其步骤如下：S0：从存有待测样品微分谱文件的硬盘读取谱图数据。S1：按照公式B-≡1NΣj=1NB~j;]]>计算出B值，其中为被测样品在波长λj???处的微分值，N为扫描点。S2：从存有标准微分谱文件的硬盘或磁盘读取第ⅰ种物质的标准谱图数据。S3：找出标准谱图特征峰位(λ)S4：按照公式D-j≡1NΣj=1NDij]]>计算Di值，式中，N为扫描点数，Dij为第ⅰ种组份在波长λj处的摩尔微分值，按照公式Hip≡Σj=1N(Dij-D-j)·(Dpj-D-p)---(i=1,2,······,k;p=1,2,······k),]]>计算Hip值，式中，Hip为根据上式定义的数学符号，按照公式Bio≡Σi=1kHip·Ci]]>计算Bio值，Bio。为上式义的数学符号。S5：按照公式Q=Σj=1N(Bj-B~j)2]]>→mm计算Q值，Q为拟合的残差平方和，如果测量谱和标准谱的峰位一致，则残差平方和最小，这特征峰位与标准谱图峰位差为波长漂移量，否则，标准谱移动Δλ纳米后，返回S4，重新求出Q值，直到最小。S6：所有各组份标准谱图的波长漂移量都求出后，拟合达到最佳状态，此时Q值接近于0或等于0，否则返回S2。S7：根据公式求出R值，式中R为复相关系数，U和S为上式定义的数学符号，判断R值接近1或等于1，直接进入S8，否则结果供参考。S8：输出计算结果：C1,C2,C3,……CkS9：结束：