[发明专利]多组份解谱分析法

摘要

本发明公开了一种测定多组份体系浓度的谱图分析方法，其特征在于利用计算机解谱法直接测定，在得到混合体系各组份标准谱图及测量混合谱图的条件下，执行ＲＳＰ．ＥＸＥ程序，计算机可直接给出各组份的计算浓度。标准谱图可以为人工谱或天然谱。本发明可结合分光光度计、Ｘ光－荧光光谱仪或单道扫描等离子体光谱仪等多种分析仪器，广泛用于各种状态的多组份混合体系或混合价态的直接快速测定。

主权项

1．一种测定多组份体系浓度的谱图分析方法，其特征在于利用计算机解谱法直接测定多组份体系浓度，其步骤如下：(1)在测量仪器上得到各种待测组份的标准谱图；(2)在测量仪器上与测标准谱相同测量条件下得到待测体系的混合谱图；(3)计算机运行下述解谱程序，计算出多组份体系中各组份的摩尔浓度，解谱程序按下列操作顺序：S0：启动解谱程序；S1：用已知的数据转换程序，将步骤(1)得到的各组份标准谱图及步骤(2)得到的混合谱图输入计算机；A-=1NjΣj=iNAj]]>，求出Aj值，Aj为步骤(2)得到的谱图吸收值S2：按照公式A-=1NΣj=1NAj]]>求出A值，Aj为步骤(2)得到的谱图吸收值，j为扫描点数，j=1,2,……,N，共N点；S3：从S1步建立的标准谱数据库中读入待测第ⅰ种组份的标准谱图数据；S4：找出第ⅰ种组份标准谱的特征峰位λM；S5：按照公式：F-i=1NΣj=1NFij---(i=1,2,......,k)]]>Eip=Σj=1N(Fij-F-i)·(Fpi-F-p)]]>(P=1,2,......,k；????(i=1,2,......,k)Aio=Σj=1N(Fij-F-i)·(Aj-A-)---(i=1,2,......,k)]]>分别计算出Fi值、Eip、Aio值，其中，Fij为Ⅰ组份在波长j处的摩尔克分子消光系数；S6：按照公式Q=Σi=λ1λ2(Aj-A~j)2]]>求出Q值，为理论吸收值，Aj为实验测得吸收值，求出第ⅰ种组份的残差平方和，如果Q值为最小，则执行下步操作S7，否则，说明混合谱特征峰与标准谱特征峰漂移Δλ，移动Δλ后，返回S5操作重新计算，并求出Q值；S7：判断Q值是否接近或等于零，如是，说明各组份标准谱图的波长漂移量Δλ都已求出，标准谱与混合谱拟合达最佳状态，此时可执行下一操作S8，否则返回到S3操作，重新读入第(i+1)组份标准谱图；S8：按照公式R={Σj=1k(Cj·Ajo)/[Σj=1NAj2-1N(Σj=1nAj)2]}1/2]]>计算出复相关系数R，并判断R是否接近或等于1，若是，说明混合谱与标准谱拟合得好，则执行下一操作S9，否则，误差较大，输出结果仅供参考；S9：按照公式Σi=1kEip·Ci=Aio,]]>计算出Ci值，i=1,2,....k，并输出计算结果Ci。S10：结束运行。