[发明专利]入射光荧光显微镜无效
| 申请号： | 96123425.3 | 申请日： | 1996-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN1160216A | 公开（公告）日： | 1997-09-24 |
| 发明（设计）人： | 长野隆;清水敬之;川崎健司;仓田清宣;岛田征和 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯光学工业株式会社 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的入射光荧光显微镜包括透射照射光学系统、观测光学系统和入射光荧光照射光学系统透射照射光学系统具有接收光源(1)的光并分离透射过来的光(10)的第一光学元件(2)，并把光(10)照射到样品(6)上，观测光学系统具有物镜(7)和第二光学元件(12)，且位置比样品更靠近物镜，而入射光荧光照射光学系统配置在观测光学系统中，其中，第一光学元件在比荧光波长更长的波长处具有一个透射率的峰值，而第二光学元件只是选择地调制透射过第一光学元件的波长。 | ||
| 搜索关键词： | 入射 荧光显微镜 | ||
【主权项】：
1.一种入射光萤光显微镜，其特征是该显微镜包括：透射照射光学系统，该透射照射光学系统具有接收发自光源(1)的光并分离透射过来的光(10)的第一光学元件(2，14)，并且把透射过来的光(10)照射到一个样品(6)上；观测光学系统，该观测光学系统具有物镜(7)和第二光学元件(12)并定位于比样品(6)更靠近所述物镜(7)；及配置在所述观测光学系统中的入射光萤光照射光学系统，其中所述第一光学元件(2，14)在比萤光波长更长的波长处具有透射率的峰值，而且所述第二光学元件(12)只是选择性地调制透射过所述第一光学元件(2，14)的波长。
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