[发明专利]固定值存储单元装置及其制作方法无效
申请号: | 96192693.7 | 申请日: | 1996-03-04 |
公开(公告)号: | CN1079994C | 公开(公告)日: | 2002-02-27 |
发明(设计)人: | W·克劳斯内德尔;L·里斯赫;F·霍夫曼 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;H01L21/8246 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,萧掬昌 |
地址: | 联邦德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 固定值存储单元装置包括很多单个的存储单元,这些存储单元分别包括一个MOS晶体管并且设在平行伸展的行中。其中,相邻的行分别交替地在纵向沟槽(6)的底部和在相邻的纵向沟槽(6)之间伸展并且是相互隔离的。通过自对准工艺步骤,固定值存储单元装置是可在每个存储单元的占用面积为2F2(F最小的结构尺寸)的情况下制作的。$#! | ||
搜索关键词: | 固定 存储 单元 装置 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种固定值存储单元装置,其中,-在半导体衬底(1)中设有很多单个的存储单元,-存储单元分别设在平行伸展的行中,-在半导体衬底(1)的主面(2)内具有纵向沟槽(6),这些纵向沟槽平行于行伸展,-这些行分别交替地处于相邻的纵向沟槽(6)之间的主面(2)上并处在纵向沟槽(6)的底部,-设有隔离结构(3、10),相邻的行通过这些隔离结构(3、10)相互隔离,-存储单元分别包括至少一个MOS晶体管(12、11、12),所述MOS晶体管的源/漏区制作为纵向沟槽底部上相关的掺杂区,在源/漏区之间设置一个带有栅电极的栅极,-字线(11)横向于行伸展,字线(11)分别与沿不同的行设置的MOS晶体管的栅极相连。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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