[实用新型]晶体管综合参数测试仪无效
| 申请号： | 96212495.8 | 申请日： | 1996-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN2303306Y | 公开（公告）日： | 1999-01-06 |
| 发明（设计）人： | 崔本柱 | 申请（专利权）人： | 崔本柱 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京科龙环宇专利事务所 | 代理人： | 张爱莲 |
| 地址： | 100006 北京市宣*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 晶体管综合测试仪属于晶体管参数的测量仪表。其目的在于开一种成本低,测量方便,便于大众普及的晶体管综合参数测仪。该仪器用直接标出晶体管各种参数和标出三端稳压器参数的5D11掷位波段开关K1,及配合其他选择开关,测出晶体管和三端稳压器的各种参数和电压。该仪器优点是直观、方便、体积缩小,成本降低,是维修家电设备的有利工具。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 综合 参数 测试仪 | ||
【主权项】：
1．一种晶体管综合参数测试仪，其特征在于在其面板上增加了直接标出晶体管各种参数和标出三端稳压器各种参数的5刀11掷位波段开关K1，并且开关K1的各刀及各掷位点分别连接着表示所测各种参数的配合使用的其他选择开关和被测晶体管及三端稳压器的管脚插座；所述其他开关有电压、电流量程k2，正反向特性选择k3，双极晶体管类型选择k4，二、三极管类型选择k5，电流范围选择k6、k7，击穿电压BV定义电流选择k8，饱和电压定义电流选择K9，BV选择K10，放大倍数倍率开关K11。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于崔本柱，未经崔本柱许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/96212495.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
