[发明专利]高电阻负载型静态随机存储器单元及其制造方法无效
申请号: | 97113664.5 | 申请日: | 1997-05-13 |
公开(公告)号: | CN1083620C | 公开(公告)日: | 2002-04-24 |
发明(设计)人: | 崔国善;姜至星;南宗完 | 申请(专利权)人: | 现代电子产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/11 | 分类号: | H01L27/11 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种高电阻负载型SRAM单元,包括含有第一多晶硅层和第二多晶硅层的底层,在底层上具有接触孔的第一绝缘膜,形成在第一多晶硅层上并通过接触孔与驱动晶体管连接的第三多晶硅层,在第三多晶硅层和第一绝缘膜上形成的第二绝缘膜,及在第二绝缘膜上形成电源线和高电阻负载元件的第四多晶硅层。利用普通的TFT型单元制造方法,仅改变简单的布图设计就能制造HLR型存储单元,仅改变简单的电路配置就能有选择地制造高速和低速型SRAM。$#! | ||
搜索关键词: | 电阻 负载 静态 随机 存储器 单元 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高电阻负载型静态随机存储器单元,是包含高电阻负载元件的静态随机存储器单元,其特征在于它包括:包含第一多晶硅层和第二多晶硅层的底层,其中第一多晶硅层用于在半导体基片的规定区域上形成第一和第二驱动晶体管以及第一和第二存取晶体管的栅极,第二多晶硅层作为连接所述第一和第二驱动晶体管的接地线;第一绝缘膜,形成在所述底层上,并在所述底层规定区域中具有接触孔;第三多晶硅层,形成在所述第一绝缘膜上,并通过所述接触孔连接到所述驱动晶体管;第二绝缘膜,形成在所述第三多晶硅层和所述第一绝缘膜上;第四多晶硅层,形成在所述第二绝缘膜上,通过掺杂浓度区分电源线和高电阻负载元件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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