[发明专利]电器和电气设备的劣化诊断方法及装置无效
申请号: | 97114007.3 | 申请日: | 1997-06-27 |
公开(公告)号: | CN1072360C | 公开(公告)日: | 2001-10-03 |
发明(设计)人: | 竹泽由高;伊藤雄三;佐藤重胜 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01R31/06 | 分类号: | G01R31/06 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 为了在注油的电器和电气设备不停止其工作的运作期间无破坏地诊断例如绝缘油和绝缘纸的劣化程度,注油电器和电气设备的劣化诊断方法使用光纤(6、7)和油浸探测器(5)并根据绝缘纸的任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率差无破坏地诊断绝缘纸的劣化程度。$#! | ||
搜索关键词: | 电器 电气设备 诊断 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种电器和电气设备的劣化诊断方法,其中从至少二类具有互相不同波长的单色光源出射的照射光经由照射用光纤引入到电器和电气设备的里边,从照射用光纤出射的发射光穿过具有透射距离a的绝缘介质,此后,进入导向电器和电气设备外边的接受光用光纤并被传输和引入光量测量单元,该劣化诊断方法其特征在于包括步骤:调节各单色光光源的强度以使它们在光量测量单元上的光强显示恒定值;此后使从单色光的光源出射的照射光经由照射用光纤引入电器和电气设备的里边;照射处于具有a/2透射距离的位置上的绝缘材料的表面;使从绝缘材料的表面反射的光通过使用使从绝缘材料的表面出射的反射光导向电器和电气设备外边的接受光用光纤导入光量测量单元;在劣化程度数据处理单元中,根据从光量测量单元输出值按照公式(1)对各波长计算反射吸收率(Aλ);根据公式(2)处理任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率差(ΔAλ)或是根据公式(3)处理任何二个波长的反射吸收率之间的反射吸收率比(Aλ′);和通过比较预先以总曲线形式存储的被测绝缘材料的劣化程度与数据处理过的反射吸收率差或是与反射吸收率比之间的关系的进一步数据处理来判断绝缘材料的劣化程度,Aλ=-log(Rλ/100)…(1)ΔAλ=Aλ1-Aλ2(其中λ1<λ2)…(2)Aλ′=Aλ1/Aλ2(其中λ1<λ2)…(3)其中被测绝缘材料在波长λ(纳米)上的反射率被定为Rλ(%)。
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