[发明专利]动态型半导体存储器及其测试方法无效
| 申请号： | 97120024.6 | 申请日： | 1997-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN1187677A | 公开（公告）日： | 1998-07-15 |
| 发明（设计）人： | 安达幸信;沖本裕美;林越正纪 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯,叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本动态型半导体存储器及其测试方法能缩短测试时间。在通常方式中,将升压电压Vpp供给所选择的字线WL1。在测试方式中,将比Vpp电平低的电源电压Vcc供给所选择的字线WL1。因此,在测试方式中,写入存储单元25的高电平数据比在通常方式中写入存储单元25的高电平数据的电位低。因此,能缩短产生H→L错误的时间,能缩短测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 半导体 存储器 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种动态型半导体存储器，其特征在于备有：多个存储单元和写入电压控制装置，上述多个存储单元排列成行及列的矩阵状，各存储单元分别保存高电平数据或低电平数据，上述写入电压控制装置在将上述高电平数据写入上述存储单元时、在通常方式下写入第1电平电压，在测试方式下写入比上述第1电平电压低的第2电平电压。
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