[发明专利]用于制作微力学传感器的方法无效

专利信息
申请号: 97181538.0 申请日: 1997-11-24
公开(公告)号: CN1245559A 公开(公告)日: 2000-02-23
发明(设计)人: T·沙伊特;U·奈赫尔;C·希罗尔德 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01L9/00 分类号: G01L9/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,王忠忠
地址: 联邦德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于在硅衬底上制作作为微力学元件的绝对压力传感器的方法,其中,辅助层(3)中的位于薄膜层(5)之下的空腔(4)通过蚀刻开口(6)被蚀刻出。这些蚀刻开口(6)借助钝化层(7)被封装,一个特殊的蚀刻开口(11)在蚀刻接触开口时被重新打开并且该蚀刻开口(11)在下一个在低压下进行的方法步骤中,通过金属化或用电介材料(10、12)被重新封装。
搜索关键词: 用于 制作 力学 传感器 方法
【主权项】:
1.用于制作微力学传感器的方法,具有如下方法步骤:a)第二层(5)或层序列被敷到为建立空腔(4)而含有的第一层(3)或层序列上,b)借助一个掩膜,具有视以下方法步骤(c)和(d)而定的尺寸的开口(6)在第二层(5)中在待建立的空腔(4)的与层平面垂直投影的范围内被建立,c)在应用这些开口的情况下,空腔(4)在第一层(3)或层序列中被蚀刻出,d)封装层(7)被敷到第二层(5)上,据此,在不对空腔(4)进行充填的情况下使开口得以封装,e)第二层中的开口(11)中的至少一个开口(11)被重新至少开得如此之大,使空腔被敞开,f)该开口(11)借助一种与封装层(7)的材料不同的材料被重新封装,据此,使空腔得以封装。
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