[发明专利]半导体试验装置的比较器无效
| 申请号： | 97190001.9 | 申请日： | 1997-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN1081336C | 公开（公告）日： | 2002-03-20 |
| 发明（设计）人： | 吉田健嗣 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01H61/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明中设置了差动接受式比较器电路，实现不受同相信号影响的差动输出比较器。为此，设置了补偿加法器(30)，用来接受来自DUT的差动信号(101、102)，对输出信号(111、112)施加补偿电压，另外还设置了比较器(71)，用来接受来自补偿加法器(30)的两输出信号，对两输出信号进行比较，然后输出。$#! | ||
| 搜索关键词： | 半导体 试验装置 比较 | ||
【主权项】：
1、一种半导体试验装置的比较器，用来对来自DUT输出的两个差动信号之间的差动动作进行试验，该比较器包括：笫1开关，用来接受来自所述DUT的一个差动信号，通过在该差动信号和固定电位之间进行切换来输出其中之一；第2开关，用来接受来自所述DUT的另一个差动信号，通过在该差动信号和所述固定电位之间进行切换来输出其中之一；补偿电路，用来接受来自所述第1开关和第2开关的所述差动信号，并生成配备了规定的补偿电压的两个输出信号；以及比较器，接受来自所述补偿电路的所述两个输出信号并进行比较操作。
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