[实用新型]单片机控制综合参数测试仪

摘要

本实用新型公开了一种单片机控制综合参数测试仪,该机CPU能以多项式Pm(x)代替传感器信号f(x),使测量误差符合精度0.1%的要求;当单片机重新启动时,CPU使需复位的芯片全部复位,不会出现死机情况;光电隔离电路(1)输出端并有电容器C,使整机抗干扰性能好;显示电路(2)带有一个并入串出移位寄存器和一组n个级联的串入并出移位寄存器,能将n组并行数据同时锁存并供给译码器,在数显管上显示。

主权项

1、一种单片机控制综合参数测试仪，包括单片机、传感器放大电路、光电隔离电路、显示电路、D/A电路、复位电路以及声、光报警电路等，其特征在于：A、单片机中的CPU，还能对传感器信号yi与单片机A/D读数xi的关系符合离散函数yi＝f(xi)(xi互不相同，i＝0，1，…，m)的传感器系统，给定一个多项式Pm(x)，使在已知结点xi满足yi＝Pm(x1)，而对区间[x0，xm]中其余各点，传感器信号连续函数f(x)与多项式连续函数Pm(x)间，使测量误差|f(x)-Pm(x)|符合精度0.1％的要求；B、在单片机监视定时器开通的前提下，将单片机的输出管脚P1.0～P1.5和P1.7与整个仪器内需复位的芯片的RST端相连接，当单片机重新启动时，CPU使这些输出管脚产生高电平——延迟——低电平，模拟复位脉冲，能使整机复位，不会出现死机情况；C、光电隔离电路(1)输出端即单片机的A/D输入端与模拟地之间并有电容器C；D、显示电路(2)带有一个并入串出移位寄存器(21)和一组n个级联的串入并出移位寄存器(22)，2n个译码器(23)和2n个数显管(24)，以及计数器(25)和反相触发器(26)，每一次并行数据输入经移位寄存器(21)转换成串行数据后，移位寄存器(22)的第1级接收这组串行数据并锁存以供给译码器(23)，同时将原来锁存的数据推入移位寄存器(22)的后一级。