[发明专利]具光检测电路的光电集成电路及其制造方法无效

专利信息
申请号: 98102244.8 申请日: 1998-06-09
公开(公告)号: CN1238565A 公开(公告)日: 1999-12-15
发明(设计)人: 蔡文钦 申请(专利权)人: 美禄科技股份有限公司
主分类号: H01L31/00 分类号: H01L31/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 台湾省新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种结合光检测电路于集成电路的光电集成电路,其特征是提供集成电路可直接将输入的光讯号转换为电子讯号,以便其积体电路执行处理的光电集成电路,其中,该集成电路结合的光检测电路是一种金属一半导体一金属(Metal-Semiconductor-Metal)的光检测器,其受光时会产生电流,使输入的光讯号藉此转换成电子讯号,该电子讯号即可被集成电路接受而处理,实现光、电转换于一体的光电集成电路。
搜索关键词: 检测 电路 光电 集成电路 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种具光检测电路和的光电集成电路,其特征在于是结合光检测电路于集成电路的光电集成电路,其光检测电路为半导体元件的光电二极管,其至少包括:第一层金属,用以作为该光检测电路之一电极;检光半导体薄膜,沉积于第一层金属,用以侦测光讯号;第二层金属,用以作为该光检测电路的另一电极,并与第一层金属相对。
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