[发明专利]检测存储器装置的方法无效

专利信息
申请号: 98102863.2 申请日: 1998-07-14
公开(公告)号: CN1218961A 公开(公告)日: 1999-06-09
发明(设计)人: 张昌武 申请(专利权)人: ECTS公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 中科专利代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用来检测存储器装置的方法,首先,将存储器装置切割成复数个区块,对切割后的其中一个存储器区块先使用一图案,实施完整的检测;接着,将该区块整个填写成‘1’,而其背景部分填写成‘0’;然后,将该区块行走整个存储器装置,以便快速地检测整个存储器装置;不仅大大缩短传统的存储器装置的检测技术的测试时间,也可完整地检验出地址解码器的正常与否的缺失;同时,本发明也找出使存储器装置检测时间达到最小的区块数。
搜索关键词: 检测 存储器 装置 方法
【主权项】:
1.一种检测存储器装置的方法,该存储器装置被安排成行与列的形式,其特征在于,该方法包含下列步骤:a)分割该存储器装置成复数个存储器容量较其为小的区块;b)从该复数个区块中选取一第一区块;c)对该第一区块使用一种检测图案来实施检测;d)该第一区块每一位填写成相同的值,而其它每一区块的每一位填写成该值的补数;及e)将该区块行走该整个存储器装置的其它每一区块,以检测该存储器装置。
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