[发明专利]被扫描物物理参数的检测方法与装置无效
| 申请号： | 98103924.3 | 申请日： | 1998-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN1097802C | 公开（公告）日： | 2003-01-01 |
| 发明（设计）人： | 李凤生 | 申请（专利权）人： | 鸿友科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/20 | 分类号： | G06K9/20 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 杨梧 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种被扫描物物理参数的检测方法，其用以检测一被扫描物的一物理参数，其包括以下步骤(a)提供一初始光学信号；(b)接收该初始光学信号，且对应于该初始光学信号产生一初始检测信号；(c)接收该初始光学信号，且对应于该被扫描物的该物理参数，以产生一复合检测信号；以及(d)将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理，得知该被扫描物的该物理参数。本发明还涉及被扫描物物理参数的检测装置。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 物理 参数 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种被扫描物物理参数的检测方法，其用以检测一被扫描物的一物理参数，该物理参数包括被扫描物的长度边长或宽度边长，其中该检测方法包括以下步骤：(a)提供一初始光学信号；(b)接收该初始光学信号，且对应于该初始光学信号产生一初始检测信号；(c)接收该初始光学信号，且对应于该被扫描物的该物理参数，以产生一复合检测信号；以及(d)将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理，得知该被扫描物的该物理参数。
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