[发明专利]用于出现在电子电路部件表面上残余物腐蚀性效果定量测量的方法和设备有效
申请号: | 98107079.5 | 申请日: | 1998-02-23 |
公开(公告)号: | CN1206831A | 公开(公告)日: | 1999-02-03 |
发明(设计)人: | T·L·慕森;D·O·鲍尔斯 | 申请(专利权)人: | 污染研究实验室有限公司 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张志醒,陈景峻 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 确定电子电路部件上特定区域清洁度(根据腐蚀性)的一种方法和设备,其方法包括(1)将提取室放在要测量的电子电路部件区域上;(2)将提取液加入提取室中;(3)利用提取液接触要测量的区域足以从该区域中提取残余物的一段时间;(4)将提取液传送给包括两个或多个电极的测试室;(5)给电极加上电压;和(6)测量加上电压与电极间短路之间的时间;其设备包括提取室(装有提取液)、测试室(装有电极和电压源)以及定时器。 | ||
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【主权项】:
1.用于定量测量出现在电子电路部件表面上的残余物的腐蚀性效果的一种方法,此方法包括:a.将提取室放置在要测量的电子电路部件(“ECA”)区域上;b.将提取液加入所述提取室;c.利用所述提取液接触要测量的ECA区域足以从ECA区域中提取残余物并生成含有残余物的液体的时间;d.将所述含有残余物的液体加入包括两个或多个电极的测试室,其中含有残余物的液体至少加入到电极之间的空间中;e.给至少一个电极加上电压;f.测量电压加上到电极之间短路之间的时间。
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