[发明专利]使用整体X光透镜的位置灵敏X射线谱仪无效
| 申请号： | 98117558.9 | 申请日： | 1998-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN1245895A | 公开（公告）日： | 2000-03-01 |
| 发明（设计）人： | 颜一鸣;丁训良;赫业军 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 北京亚沛专利事务所 | 代理人： | 王振新 |
| 地址： | 100875 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于测定试样中元素含量、化学态及元素含量在样品中的分布的位置灵敏X射线谱仪,由X光源、样品、平面晶体、位置灵敏探测器及相应电子学系统和计算机多道分析系统等组成。在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜,在样品和平面晶体之间加有一一维平行X光聚束系统。本发明的分析灵敏度高、探测极限低、功率密度大、能量分辨率高,可作全元素含量分析、元素存在的化学态及微区分布分析,且结构简单、造价低。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 整体 透镜 位置 灵敏 射线 | ||
【主权项】：
1.一种使用整体X光透镜的位置灵敏X射线谱仪，包括X光源、样品、平面晶体、位置灵敏探测器及相应电子学系统和计算机多道分析系统，其特征在于：在X光源和样品之间加有一整体会聚X光透镜。
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