[发明专利]光盘存储介质质量测试方法及装置无效
| 申请号： | 98120038.9 | 申请日： | 1998-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN1212423A | 公开（公告）日： | 1999-03-31 |
| 发明（设计）人： | 金大泳;吕运盛;金炯奎;裵桐淅 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B13/06 | 分类号： | G11B13/06 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 余朦 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于检测光盘介质质量的方法和装置,从一个光盘中再生一个辅助信号,其中辅助信号与光盘的一个预格式化结构相对应。然后根据辅助信号确定光盘的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 光盘 存储 介质 质量 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1．一种光盘质量测试方法，其特征在于包括：从一个光盘中再生一个辅助信号，所述辅助信号对应于所述光盘的一个预格式化结构；及根据所述辅助信号确定上述光盘的质量。
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