[发明专利]测量光盘系统特性的装置和方法无效
| 申请号： | 98120502.X | 申请日： | 1998-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1221176A | 公开（公告）日： | 1999-06-30 |
| 发明（设计）人： | 中山明仁;新谷贤司;小浜俊介;桥本缘 | 申请（专利权）人： | 索尼精密工程中心(新)有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒,王忠忠 |
| 地址： | 新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 特性测量装置1将拾光器2光检测器的输出作为信号A－F直接供给取样保持电路8a－8f。取样保持电路8a－8f、多路调制器9、和第二模/数转换电路10以50KHz或更大的取样频率将信号A－F转换成数字数据。在计算机12中,处理区12d从数据存储区12b读出指定程序,测量RF信号的电平的程序P存储在此数据存储区12b。处理区12d根据存储在第二存储器11的数字数据,完成指定测量项目的操作,从而测量拾光器2的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 光盘 系统 特性 装置 方法 | ||
【主权项】：
1．含有重放驱动器和光电转换部分的拾光器特性测量装置，其中所述装置包括：控制所述重放驱动器的伺服控制装置；转换所述光电转换部分的模拟数据输出成数字数据输出的模/数转换装置；存储所述模/数转换装置的数字数据输出的存储装置；和根据存储在所述存储装置的所述数字数据测定所述拾光器特性的处理装置。
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