[发明专利]使用频谱分析仪的测量方法无效
申请号: | 98125874.3 | 申请日: | 1998-10-27 |
公开(公告)号: | CN1226006A | 公开(公告)日: | 1999-08-18 |
发明(设计)人: | 新井通明;小管尚 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R23/00 | 分类号: | G01R23/00 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种自动设置参考电平的方法。变频器13的输出被分支,分支输出由另一变频器33变频,由AD转换器31转换成数字信号,存储在存储器35中。读出该数字数据,查看AD转换器31是否溢出。如果是,则第一级衰减器12的衰减量从初始设置值增加,以再次采集数据。如果否,则查看该数字数据的峰值是否在AD转换器31的满刻度的85%—65%的范围内,如果否,则执行计算以增加/减小放大器15的增益。如果是,则这个值被置为参考电平。 | ||
搜索关键词: | 使用 频谱 分析 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种使用频谱分析仪的测量方法,包括下列步骤:分支用来在所述频谱分析仪中进行频率选择的变频装置的输出;将被分支的输出转换为数字数据;检验用来将被分支的输出转换为数字数据的AD转换装置是否溢出;和如果所述AD转换装置溢出,则调整所述频谱分析仪的第一级电平调整装置,以防止出现溢出。
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