[发明专利]用于半导体制造的石英玻璃构件有效
申请号: | 98800389.9 | 申请日: | 1998-03-24 |
公开(公告)号: | CN1150346C | 公开(公告)日: | 2004-05-19 |
发明(设计)人: | D·赫尔曼;G·勒布伦;J·贝克尔 | 申请(专利权)人: | 赫罗伊斯石英玻璃有限公司;赫罗伊斯石英有限公司 |
主分类号: | C23C14/56 | 分类号: | C23C14/56;C23C16/44;C03C15/00;C03C17/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 卢新华;温宏艳 |
地址: | 联邦德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于半导体制造的已知的石英玻璃构件,它具有粗糙的表面,该表面由不规则的隆凸的结构单元组成,并在第一个较高的平面与第二个较低的平面之间延伸,而在第一个平面的许多结构单元主要呈现平的盖面形状,其全部边缘均以呈多角形小平面的大部分是平的侧壁包围,并分布在第一平面与第二平面之间。这种石英玻璃构件特别适合于CVD-层的粘结,其使用寿命是比较长的。按照本发明,其平均表面粗糙深度Ra为0.1μm-10μm,结构单元在第一平面上投影大小的平均值为30μm-180μm。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 制造 石英玻璃 构件 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造半导体的石英玻璃构件,它具有粗糙的表面,该表面由不规则的隆凸的结构单元(1)组成,并在第一个较高的平面(2)与第二个较低的平面(3)之间延伸,而在第一个平面(2)上的许多结构单元主要呈现平的盖面形状,其全部边缘均以呈多角形小平面的大部分是平的侧壁包围,并分布在第一平面(2)与第二平面(3)之间,其特征在于,表面的平均粗糙深度Ra为0.1μm-10μm,结构单元(1)在第一平面(2)上的投影大小为30μm-180μm,侧壁(5)中至少一部分成台阶状,相邻的结构单元(1)之间形成沟槽(8),其宽度至少为1μm。
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