[发明专利]非对称辐射探测系统无效
申请号: | 98804592.3 | 申请日: | 1998-03-13 |
公开(公告)号: | CN1253630A | 公开(公告)日: | 2000-05-17 |
发明(设计)人: | 马里奥·皮耶兰格罗·马蒂尼;戴尔·A·吉德克;托马斯·鲁道夫;帕特·桑辛克耶奥夫 | 申请(专利权)人: | EG&G设备公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种辐射探测系统,它的内、外电极(14a和16a)被成形和定位得使它们之间的每条路径的长度不同,以致内电极与外电极上各点之间的最短路径长度不同,从而由被探测的辐射事件所得的脉冲上升时间可以唯一地确定该事件的方位角和径向位置。 | ||
搜索关键词: | 对称 辐射 探测 系统 | ||
【主权项】:
1.一种非对称辐射探测系统,包括:一个半导体二极管,该二极管具有在二极管外周缘处的外电极;和位于该二极管内一个位置处的内电极,其中内电极和外电极上各点之间的每条最短路径的长度不同,用以产生与该二极管内发生的辐射探测事件的方位角和径向位置唯一对应的上升时间。
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