[发明专利]测试半导体系统中命名器件参量数据的储存与搜索系统

摘要

本发明涉及半导体生产中的自动测试设备以及对用于测试过程的命名器件参量数据的存储与搜索。电子数据表格工作簿中具有一个或多个含有命名器件测量数据的多个嵌套层的电子数据表格。数据管理器在存储器中存储该命名数据并在需要时搜寻所储存的命名数据。该数据管理器具有一个或多个储存器，每一个储存器具有一种以二叉树的形式或以顺序排列向量的形式存储命名数据多个嵌套层的模式。利用在所述顺序排列向量中确定命名数据位置的数字标识，将所述树上的所述数据映射到所述顺序排列向量中。所述这些储存器的嵌套层数和所述命名数据的嵌套层数相同。每一个储存器具有一种对树搜索命名数据搜索模式，并利用有关命名数据的映射标识在顺序排列向量中搜寻命名数据。然后，该储存器存储该数字标识。此搜索搜寻命名数据及其在嵌套层中的顺序。

主权项

1.一种测试半导体系统中命名器件参量数据的存储和搜索系统，包括：存储器，被命名器件的参量数据的嵌套层，在存储器内存储所述命名数据并在其中搜索所述命名数据的数据管理器，所述数据管理器具有一个或多个储存器，每一个储存器具有一个模式，该模式用于按二叉树的形式并以顺序排列向量的形式存储所述命名数据的一个嵌套层，利用在所述顺序排列向量中确定的所述命名数据位置的映射标识，将所述二叉树上的数据映射到所述顺序排列向量中，每个所述储存器具有一个用于所述命名数据的搜索模式，它对所述二叉树搜索所述命名数据，并且使用与所述命名数据对应的所述映射标识在所述顺序排列向量中搜寻所述命名数据，所述搜索由此找出命名数据及其在所述嵌套层中的顺序。