[发明专利]样品的热离子热雾化方法及装置无效
| 申请号： | 98814318.6 | 申请日： | 1998-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN1338045A | 公开（公告）日： | 2002-02-27 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·阿哈多维奇·加聂耶夫;谢尔盖·叶夫给尼叶维奇·硕陆波夫 | 申请（专利权）人： | 亚历山大·阿哈多维奇·加聂耶夫;谢尔盖·叶夫给尼叶维奇·硕陆波夫 |
| 主分类号： | G01N21/67 | 分类号： | G01N21/67;G01N21/74 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 马娅佳,穆魁良 |
| 地址： | 俄罗斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明属于分析仪器的结构,能被用于分析自然的或工业的水、生物样品、地质样品和空气。本发明的目的在于实质性地降低由雾化器和分析仪消耗的能量,并且增加可分析物的数量。在这一点上,用于样品的热雾化的方法涉及在低压放电条件下实现从阴极的样品的离子喷射。该阴极被放电加热到800至1400℃之间的温度,而镇定气体包括有在10至15乇的气体压力下的氪(Kr)和氙(Xe)。该热离子雾化装置包括设置在充有惰性气体的气体放电室里的雾化器,其特征在于该雾化器设置成中空圆柱状金属和薄壁的阴极。为了达到这个目的,该方法包括使用一热离子雾化装置,在一有效的实施例中,包括上述的气体放电雾化器,即中空金属和薄壁的阴极。这个机制能够是样品在短时间内(0.2至1秒)进行喷射和雾化,因此降低了检测极限而消除了基材影响。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 离子 雾化 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、样品的热离子雾化方法，包括从处于低压放电的阴极的样品的离子喷雾，其特征在于：阴极被放电加热至800-1400℃；被用作镇定气体的氪或氙的压强范围是10-15乇。
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