[发明专利]用于半导体集成电路的输入缓冲电路无效
申请号: | 99100198.2 | 申请日: | 1999-01-19 |
公开(公告)号: | CN1122279C | 公开(公告)日: | 2003-09-24 |
发明(设计)人: | 藤井彻 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G11C11/407 | 分类号: | G11C11/407 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体集成电路的输入缓冲电路,其具有:差分放大电路;当加入的测试使能信号为开状态时切断差分放大电路短路电流的电流切断电路;在测试使能信号为关状态时选择差分放大电路的输出并且在该信号为开状态时输出选择的输入信号的选择装置。其还具有一控制电路,它控制差分放大和选择电路使测试使能信号在加入的一输入使能信号是开状态时成为有效,反之则切断差分放大电路的短路电流并将具有给定电平的信号输出到下一级。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 集成电路 输入 缓冲 电路 | ||
【主权项】:
权利要求书1.一种半导体集成电路的输入缓冲电路,其中包括:一个放大输入信号的差分放大电路,它具有用于输入测试使能信号的一个使能端;一个电流切断电路,它串联在差分放大电路的电流通路中,当从外部加入的测试使能信号是在开状态时,电流切断电路切断所述差分放大电路的短路电流;以及一个选择装置,它的一个输入端与差分放大器的输出端相连接,它的另一输入端与差分放大器的用于输入信号的输入端相连接,并具有测试使能信号输入端,其当测试使能信号是在关状态时选择所述差分放大器电路的输出,并且当所述测试使能信号是在开状态时输出选择的所述输入信号。
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