[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 99102540.7 申请日: 1999-02-26
公开(公告)号: CN1238560A 公开(公告)日: 1999-12-15
发明(设计)人: 栗山祐忠;塘一仁;秋山龙彦;有田丰;岸本忠史 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L23/31
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 为了抑制因热中子引起的软错误,在容纳半导体芯片(2)的模塑封装体(4)的表面上粘贴含有氮化硼的片(6)。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,具备:容纳半导体芯片的封装体,该半导体芯片在内部形成存储元件;以及被粘贴到上述封装体的表面上并包含热中子吸收材料的热中子吸收片。
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