[发明专利]自动分析痕量物质的方法和装置无效
申请号: | 99110962.7 | 申请日: | 1999-06-29 |
公开(公告)号: | CN1247308A | 公开(公告)日: | 2000-03-15 |
发明(设计)人: | 筱崎勉;下林胜;佐藤右一 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G01N30/04 | 分类号: | G01N30/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 能够在短的时间内以较高的精度自动分析痕量物质的装置包括在不同采样点采集分别包含一种需检测的物质的样品的采样器、对包含在采样中的物质进行浓缩由此产生浓缩试样的浓缩器、定量分析包含在浓缩试样中的物质的定量分析器,控制采样器、浓缩器和分析器以特定的时间间隔自动地、反复地产生采样器、浓缩器和分析器的操作的控制器。每个浓缩器从至少两个采样器中交替地接收采样。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 痕量 物质 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种自动分析痕量物质的装置,包括:(a)采样器,用于在不同的采样点进行采样,每个所说的采样包含一种痕量物质;(b)浓缩器,用于浓缩包含在所说的采样中的痕量物质,由此制作浓缩试样;(c)一个定量分析器,用于定量分析包含在所说的浓缩试样中的所说的物质;和(d)一个控制器,用于控制所说的采样器、所说的浓缩器和所说的分析器以在特定的时间段内自动地、反复地产生所说的采样器、所说的浓缩器和所说的分析器的操作;其中每个所说的浓缩器从所说的采样器之中的至少两个采样器中交替地接收所说的采样;以及其中所说的分析器从所说的浓缩器中交替地接收所说的浓缩试样。
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