[发明专利]电子元件的测试方法和电子元件测试装置

摘要

本发明是一种将测试信号输入到要测试的电子元件里，根据其响应输出信号，判断电子元件好坏的电子元件的测试方法，在第一测试里，对多个电子元件组成的电子元件群的各电子元件A1、A2，输入共同的测试信号，根据其响应信号，判断该测试的电子元件群全体好坏。在第二测试(再检测)里，对于由第一测试工序判断为不合格的各测试电子元件，分别输入互相独立的测试信号，根据其响应信号，判断该测试的单个电子元件A1、A2的好坏。

主权项

1.一种用于电子元件的测试方法，将要测试的多个电子元件的规定端子同时电连接到测试信号的输入端子，向所述电子元件的各规定端子输入第1测试信号和与该第1测试信号不同的第2测试信号，根据所述第2测试信号的响应输出信号，判断所述多个电子元件中各个的好坏，该电子元件的测试方法包括：第一测试工序，将所述多个电子元件分成为由2以上电子元件组成的电子元件群，对所述电子元件群中各个电子元件由共同的至少一个端子作为支路，输入第1测试信号，同时对所述电子元件群中各个电子元件独立输入所述第2测试信号，根据所述第2测试的响应信号，判断该测试的所述电子元件群全体好坏；以及第二测试工序，取出所述第一测试工序判断为不合格的电子元件群，将该电子元件群的电子元件的规定端子电连接到测试信号输入端子，使所述共同的第一测试信号互相独立输入，在这种状态下对该电子元件群的各个测试电子元件输入所述第1测试信号，同时对所述电子元件群中各个电子元件独立输入所述第2测试信号，根据所述第2测试的响应信号，判断该测试的所述每个电子元件好坏。