[发明专利]非易失性半导体存储器无效

专利信息
申请号: 99118829.2 申请日: 1999-09-10
公开(公告)号: CN1260593A 公开(公告)日: 2000-07-19
发明(设计)人: 作井康司;宫本顺一 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;G11C16/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 存储单元阵列,具有由1个存储单元和夹着其的2个选择晶体管构成的单元。在1个区上,由连接在1条控制栅线CGL上的存储单元构成1页。在位线BLi上,连接具有闩锁功能的读出放大器。首先,将1页份的存储单元的数据读出到读出放大器,在读出放大器中改写数据,在进行页消除之后,将读出放大器的数据编程在1页份的存储单元上。通过在读出放大器中改写数据,就可以进行页单位或者字节单位的数据改写。
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储器
【主权项】:
1、一种非易失性半导体存储器,包括:存储单元阵列,具有由1个存储单元(MC)和夹着其的2个选择晶体管(ST1、ST2)构成的存储单元组;位线(10b、BL),被连接在上述2个选择晶体管的一方;读出放大器(13、S/A),被连接在上述位线上具有闩锁功能,其中:上述存储单元,具备具有浮动栅和控制栅的叠栅构造。
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