[发明专利]采用氧化还原反应的测定方法有效
| 申请号： | 99124830.9 | 申请日： | 1999-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN1254841A | 公开（公告）日： | 2000-05-31 |
| 发明（设计）人： | 小森胤树;米原聪 | 申请（专利权）人： | 株式会社京都第一科学 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 卢新华,钟守期 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种用氧化还原反应测定样品中待测物的方法,可得到可靠性优异的测定值。在上述氧化还原反应之前,向样品中加入四唑鎓化合物以排除样品中所含还原物质的影响;之后,生成由上述待测物由来的还原物质或氧化物质,由氧化还原反应测定其量,由该测定值确定上述待测物的量。作为四唑鎓化合物,例如可以使用2－(4－碘苯基)－3－(2,4－二硝基苯基)－5－(2,4－二磺苯基)－2H－四唑鎓盐。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 氧化 还原 反应 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.用氧化还原反应测定样品中待测物的方法，该测定方法是在上述氧化还原反应之前，往样品中添加具有四唑环结构的四唑鎓化合物以排除上述样品中所含的还原物质的影响，然后，使上述待测物产生还原物质或氧化物质，通过氧化还原反应测定其含量，根据该测定值来确定上述待测物的量。
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