[发明专利]半导体器件及其制造方法无效
申请号: | 99124856.2 | 申请日: | 1997-10-15 |
公开(公告)号: | CN1261727A | 公开(公告)日: | 2000-08-02 |
发明(设计)人: | 山崎舜平;大谷久;小山润;福永健司 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L27/00 | 分类号: | H01L27/00;H01L29/786;H01L21/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亚非 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种其性能可与MOSFET性能相比的TFT。用促进结晶化的金属元素结晶的结晶硅膜形成半导体器件的有源层,并在含卤素气氛中热处理,除去金属元素。用众多种形或柱形晶体的集合构成该处理后的有源层。用该结晶结构制成的半导体器件有极高的性能。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种EL(电致发光)显示器,包括:一个像素矩阵电路,在整个衬底上形成,且有一个薄膜晶体管;和一个逻辑电路,在整个所述衬底上形成,供驱动所述EL显示器,具有一个P沟道薄膜晶体管和一个N沟道薄膜晶体管;各所述P沟道薄膜晶体管和所述N沟道薄膜晶体管包括:一晶硅膜有源层,在整个所述衬底上形成;一栅绝缘膜,在所述有源层表面上形成;和一个栅极,在所述栅绝缘膜上形成;其特征在于,所述有源层含浓度不大于1×1018原子/立方厘米,起晶化促进作用的金属元素;且所述N沟道薄膜晶体管和所述P沟道薄膜晶体管表示电气特性的S值的标准偏差分别在10毫伏/衰变内和15毫伏/衰变内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的