[实用新型]自动移相抗干扰介损测试仪无效
申请号: | 99239860.6 | 申请日: | 1999-10-11 |
公开(公告)号: | CN2391204Y | 公开(公告)日: | 2000-08-09 |
发明(设计)人: | 陈邦栋 | 申请(专利权)人: | 上海思源电气有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 上海交通大学专利事务所 | 代理人: | 毛翠莹 |
地址: | 200240*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种自动移相抗干扰介损测试仪,用于电力系统绝缘预防性试验,采用的抗干扰电子回路包括隔离变压器、抗干扰信号处理电路、自动移相处理电路及放大、滤波、整流等电路,并采用单片机CPU及D/A转换电路,完成自动移相抗干扰功能。本实用新型利用电子电路辅以相应的软件,实现了0~360°自动移相、幅值可调的抗干扰信号,有效地消除空间耦合所带来的干扰,使抗干扰测量简单、准确。 | ||
搜索关键词: | 自动 抗干扰 测试仪 | ||
【主权项】:
1、一种自动移相抗干扰介损测试仪,其特征在于采用的抗干扰电子回路包括隔离变压器、抗干扰信号处理电路、自动移相处理电路及放大、滤波、整流等电路,并采用单片机CPU及D/A转换电路,完成自动移相抗干扰功能,隔离变压器的输出经可调电阻R1连接到抗干扰信号处理电路的输入端,抗干扰信号处理电路的输出连接到自动移相处理电路,自动移相处理电路的输出Ug与取样信号URb连接到放大器IC5的输入端,IC5的输出Us经放大、滤波、整流、A/D转换电路,连接到CPU,CPU控制调整D/A转换电路的输出E、F,反馈到自动移相处理电路。
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