[发明专利]半导体封装用环氧树脂组合物及使用了该组合物的半导体器件无效

专利信息
申请号: 99801265.3 申请日: 1999-06-03
公开(公告)号: CN1113083C 公开(公告)日: 2003-07-02
发明(设计)人: 谷口刚史;山根实;西冈务;原田忠昭;细川敏嗣;池村和弘;三隅贞仁;大泉新一 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: C08L63/00 分类号: C08L63/00;C08K3/00;C08G59/62;H01L23/29
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘元金,杨丽琴
地址: 日本大阪*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种含有环氧树脂、苯酚树脂、硬化促进剂和无机填充剂的半导体封装用环氧树脂组合物。该组合物具备下列特性(X)~(Z):(X)用流动试验仪粘度表示的175℃粘度为50~500泊;(Y)用动态粘弹性测定仪测定、剪切速度5(1/s)的粘度的温度分布中,最小熔融粘度为1×105泊以下;(Z)用动态粘弹性测定仪测定、剪切速度5(1/s)的90℃粘度(Z1)与110℃粘度(Z2)之粘度比(Z1/Z2)为2.0以上。该半导体封装用环氧树脂组合物不因封装期间树脂流动而发生半导体元件位置的漂移,也不发生因金线变形引起的芯片倾斜,而且可以用来提供显示出高可靠性的半导体器件。
搜索关键词: 半导体 封装 环氧树脂 组合 使用 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体封装用环氧树脂组合物,该组合物是一种含有环氧树脂、苯酚树脂、硬化促进剂和无机填充剂的半导体封装用环氧树脂组合物,其特征在于具备下列特性X~Z:X:用流动试验仪粘度表示的175℃粘度为50~500泊;Y:用动态粘弹性测定仪测定、剪切速度5l/s的粘度的温度分布中,最小熔融粘度为1×105泊以下;Z:用动态粘弹性测定仪测定、剪切速度5l/s的90℃粘度Z1与110℃粘度Z2之粘度比Z1/Z2为2.0以上,其中,所述硬化促进剂是具有由硬化促进剂组成的芯部被覆了由合成树脂组成的壳部的芯/壳构造的含硬化促进剂微胶囊。
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