[发明专利]倾斜检测装置,光盘装置和倾斜控制方法有效
| 申请号： | 99801607.1 | 申请日： | 1999-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN1277712A | 公开（公告）日： | 2000-12-20 |
| 发明（设计）人： | 中村敦史;东海林卫;石田隆 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/095 | 分类号： | G11B7/095;G11B7/09 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 刘晓峰 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种倾斜检测装置检测光盘表面关于光束光轴的倾斜(倾角)。该装置具有光头,用于将光束照射在光盘上;光探测器,用于接收光盘反射的光;以及倾斜检测器,用于利用光探测器的信号输出检测光盘记录表面关于光束光轴的倾斜。 | ||
| 搜索关键词： | 倾斜 检测 装置 光盘 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种倾斜检测装置，用以检测光盘记录表面的倾斜，所述光盘具有磁迹和所形成的第一种偏移凹坑及第二种偏移凹坑，所述凹坑被形成使得该第一种偏移凹坑和第二种偏移凹坑分别从一条磁迹的中心被偏移到该磁迹的第一侧和第二侧，所述装置包括：光头，用于通过将光斑聚焦在所述光盘上记录和重放信号；二隙光探测器，用于接收从所述光盘反射的光，所述光探测器包括沿与磁迹平行的方向分开的第一光探测元件和第二光探测元件；跟踪控制机构，用以控制所述光斑关于磁迹的位置；倾斜检测机构，用于通过差值信号输出检测光盘记录表面关于所述光束光轴的倾斜，所述差值信号表示在由所述二隙光探测器接收来自所述连续磁迹的反射光情况下，来自所述第一和第二光探测元件的信号间的差。
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