[发明专利]距离变化检测方法及距离变化检测装置、聚焦控制方法及聚焦控制装置、以及全反射光检测方法无效

专利信息
申请号: 99803403.7 申请日: 1999-10-27
公开(公告)号: CN1292136A 公开(公告)日: 2001-04-18
发明(设计)人: 今西慎悟 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/135;G01B11/00;G01C3/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘宗杰,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明是在光盘激励装置中,为了使数值孔径变大,使立体遮蔽透镜(SIL)或立体遮蔽反射镜(SIM)等介于物镜和光盘之间,在此情况下,高精度地检测SIL或SIM与光盘间的距离变化,能进行高精度的聚焦控制。本发明备有检测以数值孔径比1大的入射角从物镜(1)入射到SIL(2)或SIM后在SIL(2)或SIM中与光盘相对的面上反射的反射光的光检测装置(8)、检测向物镜1入射的入射光的光检测装置(10)、求用光检测装置(8)及(10)检测到的光量比的比较装置(11)、以及根据该比值控制聚焦调节机构的驱动的控制装置(11)。
搜索关键词: 距离 变化 检测 方法 装置 聚焦 控制 以及 反射光
【主权项】:
1.一种距离变化检测方法,该方法是检测光学系统中的所述第2光学装置与所述光学记录媒体间的距离变化的方法,该光学系统具有:使应照射在光学记录媒体上的光聚焦的第1光学装置、以及为了实现比上述第1光学装置的数值孔径大的数值孔径,介于该第1光学装置和上述光学记录媒体之间的第2光学装置,该距离变化检测方法的特征在于:检测以数值孔径比规定值大的入射角从上述第1光学装置入射到上述第2光学装置后在该第2光学装置中与上述光学记录媒体相对的面上反射的反射光,根据上述反射光的光量检测上述距离的变化。
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