[发明专利]用于工件的线性尺寸检查的测头、系统和方法有效
| 申请号： | 99803551.3 | 申请日： | 1999-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN1292082A | 公开（公告）日： | 2001-04-18 |
| 发明（设计）人： | C·达尔阿列奥 | 申请（专利权）人： | 阿齐翁尼马坡斯公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;G01B7/012;G01D3/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 吴明华 |
| 地址： | 意大利本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测头(T)包括一壳体(1),一带有探针并可相对壳体移动的臂(2),以及一诸如感应式位置传感器(5)的传感器。一电子识别器(27)固定在一与测头(T)连接的框架上,以便储存与测头有关的识别数据,例如与测头的结构和校准特征有关的信息,和/或在一适当的检测设备上进行的校准阶段中获得的补偿数值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 工件 线性 尺寸 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
1．一种用于一工件(10)的线性尺寸检查的测头(T)，包括：一支承结构(1)；一臂部件，它可相对所述支承结构移动，并包括一臂(2)；以及一探针(3)，它连接在所述臂(2)上，与被检查的工件表面接触；以及传感装置(5，6，7)，它与所述臂(2)与所述支承结构(1)连接，并按照所述臂(2)相对所述支承结构(1)的位置产生信号；其特征在于，所述测头还包括一带有电子识别器(27)的、以便储存与测头有关的识别数据的电子识别单元(17)，以及一供电子识别器用的基准和保护框架(19)。
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