[发明专利]在离子回旋谐振质谱计中使用离子磁控管谐振的总离子数测定无效

专利信息
申请号: 99809237.1 申请日: 1999-05-24
公开(公告)号: CN1312952A 公开(公告)日: 2001-09-12
发明(设计)人: S·C·博 申请(专利权)人: 西门子应用自动控制公司
主分类号: H01J49/38 分类号: H01J49/38
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 罗朋,张志醒
地址: 美国俄克*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在付里叶变换离子回旋谐振质谱计中在离子化或离子引入过程期间所形成或获得的离子总数或通过使用适谐实验技术或失谐实验技术被测定。两种技术都利用离子磁控管的运转。在适谐技术中质谱计按磁控管模式被激发并且由这种激发引起的单个谐振信号被检测以确定离子的总数。在失谐技术中磁控管模式在接近磁控管频率的频率下被激发而同步检测所引起的离子运动。失谐技术使离子群体留在适合于随后的分析状态。
搜索关键词: 离子 回旋 谐振 质谱计中 使用 磁控管 测定
【主权项】:
1.用于确定在具有俘获离子盒的傅里叶变换离子回旋谐振(FTICR)质谱计(MS)中总离子数的方法,包含步骤:a.在该俘获离子盒中使样品离子化;b.在该离子化样品中在引起离子磁控管谐振的频率下激发该离子化的样品;c.检测来自该受激的离子化样品的离子磁控管谐振信号;以及d.从由该所检测的离子磁控管谐振信号的振幅确定该总离子数。
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