[发明专利]无线测试集成电路的方法和装置有效
| 申请号： | 99816758.4 | 申请日： | 1999-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN1352747A | 公开（公告）日： | 2002-06-05 |
| 发明（设计）人： | 斯担利·A·怀特;肯尼思·S·沃利;詹姆斯·W·约翰斯顿;P·迈克尔·亨德森;小沃纳·B·安德鲁斯;乔纳森·I·西安;凯利·H·黑尔 | 申请（专利权）人： | 科内森特系统公司 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316;G01R31/311 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测试微电子电路的系统,包括一个安装微电子电路的测试床和一个信号源,该信号源用于施加一个信号给一个安装在该测试床上的微电子电路。该系统还包括一个测试探头,用于无线接收来自安装在测试床上的微电子电路的电磁响应信号。在一种优选形式中,电磁响应信号是射频信号。该测试系统还包括一个与测试探头相连接的计算机,用于分析电磁响应信号。测试系统上的测试用集成电路具有一个测试电路部分,它响应一个施加到该测试电路的预定信号而发射电磁辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 无线 测试 集成电路 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试微电子电路的系统，该系统包括：一个信号源，用于施加一个信号到一个微电子电路；和一个测试探头，用于无线接收来自安装在所述测试床上的所述微电子电路的电磁响应信号。
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