[发明专利]随机存储器的自动检测方法及其检测电路

权利要求书

1、随机存储器的自动检测方法，其特征在于，采用先向随机存储器的所有存储单元写入数据，再读出比较的方法，包括对该随机存储器的数据线测试和地址线测试两个部分：

(1)对数据线测试的步骤是：

a、建立一个可重新配置的测试数据表，用户根据实际需要，将指定数据预先写入在该测试数据表中；

b、将测试数据表中的数据写入到随机存储器的各存储单元中；

c、进行回读检测；

d、将读取值依次与写入值进行比较，如果数据一致，则认为无错误；否则，则认为有误；

(2)对地址线测试的步骤是：

a、将一组不同的数据，分别写入随机存储器的各存储单元；

b、读出该数据，并将其与写入之前的数据进行比较，如果数据一致，则认为无错误；否则，则认为有误。

2、根据权利要求1所述的随机存储器的自动检测方法，其特征在于，在数据线测试步骤b中所述的写入的数据可按不同的批次数据分若干次写入，并分别进行测试。

3、根据权利要求1所述的随机存储器的自动检测方法，其特征在于，可采用缺省数据进行相关测试。

4、根据权利要求1所述的随机存储器的自动检测方法，其特征在于，在地址线测试的b步骤中所述的读出该数据进行比较是指，当上一个数据写入到随机存储器的各存储单元之后，在写下一个数据的同一时间段，才回读所有地址寄存器的数据进行比较。

5、根据权利要求4所述的随机存储器的自动检测方法，其特征在于，所述每个地址寄存器的数据比较是针对上一次写入的数据而言，比较完之后再写入新的数据。

6、根据权利要求1所述的随机存储器的自动检测方法，其特征在于，所述的在数据线测试中，当待写入数据发生切换时，在读出数据之前，先将写入的数据按位取反后输出。

7、根据权利要求所述的随机存储器的自动检测方法，其特征在于，当对数据线测试中待写入数据发生切换时，检测电路插入了一个空操作周期，该空操作周期是，将测试数据通过取反电路按位取反后输出到外部随机存储器数据总线上，但并不写入外部随机存储器中。

8、一种专用于上述随机存储器检测方法的检测电路，该检测电路设在一控制芯片内部，其包括CPU接口电路、检测使能寄存器、检测状态寄存器、比较数据锁存器、RAM读写控制器，其特征在于，还包括一地址寄存器及一地址加一电路以及一测试数据表存储器；上述电路通过数据线相互连接；其中：

测试数据表用于写入各测试数据；

CPU接口电路可向测试数据表中写入数据，进行测试数据配置；并可通过向检测使能寄存器写入控制字触发随机存储器读写控制器，启动随机存储器检测；CPU还可通过此接口电路读取检测状态寄存器中的内容，以便掌握检测状态及结果；

检测使能寄存器用于对外部随机存储器进行检测，其通过CPU接口电路向检测使能寄存器中写入约定数据，开放检测使能；

检测状态寄存器用于向CPU接口电路提供检测结果；

地址加一电路用于对输入到地址寄存器中数据加一；

比较数据锁存器用于锁存写入到随机存储器的各存储单元的数据。

9、根据权利要求8所述的随机存储器检测方法的检测电路，其特征在于，所述的检测电路设在一控制芯片内部。

10、根据权利要求8所述的随机存储器检测方法的检测电路，其特征在于，所述的测试数据表存储器是一个16×16的测试数据表存储器。

11、根据权利要求8所述的随机存储器检测方法的检测电路，其特征在于，所述的RAM读写控制器中还包括一取反电路，该取反电路用于在待写入数据切换时将写入的数据按位取反。