[发明专利]随机存储器的自动检测方法及其检测电路

说明书

本发明涉及一种随机存储器RAM的自动检测技术。

在计算机及其应用系统中，随机存储器是用来记录存放原始数据、中间处理结果及其它信息的核心单元。随机存储器能否实现正常的读/写操作，并在存/取过程中不发生数据歧变，对于保证整个系统的正常工作十分重要。为此，有必要在系统开始工作前对随机存储器进行诊断。

随着半导体工艺的飞速发展，硅片集成度的提高，单位面积的硅片上所能实现的存储容量也在急剧增加。现在的单片存储器的存储容量已由70年代初的1Kbit增加到今天的64Mbit，并且还在快速地增加。因此，如何实现对大容量随机存储器RAM的高速、高覆盖率的测试便尤其重要。

对随机存储器RAM的诊断过程，就是检验其执行读/写操作的有效性。目前对存储器的测试包括两个基本方面：一是对存储单元的测试；另一个是对地址解码的测试。而对随机存储器RAM的检测就是通过一定的测试图案，对存储单元和地址译码电路的功能进行快速高效的检查。

进行随机存储器RAM检测的方法很多，但其基本思想都是通过对各存储单元逐次写入“0”和“1”，然后再逐个读出，检测是否正确。通常的测试操作是先向随机存储器RAM中写入数据，随后立即读出进行比较。这种方法虽可有效地检测出各种桥接故障，但对数据或控制线上的断路故障却无法检出，给系统的正常可靠运行造成隐患。

图1是以静态随机存储器S-RAM为例的数据控制线上的断路故障图。图中数据线Di在a点发生断路故障，如测试控制器(TEST_CONTROL)向被测随机存储器RAM某地址单元中写入测试数据时，由于线路上的电容效应，写入的数据被存入Di线的等效电容Ci中，且不会立即消失，此时如控制器马上回读该地址单元进行检测，则读到的数据实为Ci中存储的数据，这样a点的断路故障便不可检出。

本发明的目的是为了克服现有检测随机存储器RAM方法的缺点而提出的一种可对大容量随机存储器RAM进行高速、高覆盖率测试、且检出故障准确的随机存储器检测技术。

为了实现以上的目的，本发明的提出的技术方案是：随机存储器检测方法，其特点是，采用先向随机存储器的所有存储单元写入数据，再读出比较的方法，包括对该随机存储器的数据线测试和地址线测试两个部分：

(1)对数据线测试的步骤是：

a、建立一个可重新配置的测试数据表，用户根据实际需要，将指定数据预先写入在该测试数据表中；

b、将测试数据表中的数据写入到随机存储器的各存储单元中；

c、进行回读检测；

d、将读取值依次与写入值进行比较，如果数据一致，则认为无错误；否则，则认为有误；

(2)对地址线测试的步骤是：

a、将一组不同的数据，分别写入随机存储器的各存储单元；

b、读出该数据，并将其与写入之前的数据进行比较，如果数据一致，则认为无错误；否则，则认为有误。

上述随机存储器的自动检测方法，其中，在数据线测试步骤b中所述的写入的数据可按不同的批次数据分若干次写入，并分别进行测试；

上述随机存储器的自动检测方法，其中，可采用缺省数据进行相关测试。

上述随机存储器的自动检测方法，其中，在地址线测试的b步骤中所述的读出该数据进行比较是指，当上一个数据写入到随机存储器的各存储单元之后，在写下一个数据的同一时间段，才回读所有地址寄存器的数据进行比较。

上述随机存储器的自动检测方法，其中，所述每个地址寄存器的数据比较是针对上一次写入的数据而言，比较完之后再写入新的数据。

上述随机存储器的自动检测方法，其中，所述的在数据线测试中，当待写入数据发生切换时，在读出数据之前，先将写入的数据按位取反后输出。

上述随机存储器的自动检测方法，其中，当对数据线测试中待写入数据发生切换时，检测电路插入了一个空操作周期，该空操作周期是，将测试数据通过取反电路按位取反后输出到外部随机存储器数据总线上，但并不写入外部随机存储器中。

一种专用于上述随机存储器检测方法的检测电路，该检测电路设在一控制芯片内部，其包括CPU接口电路、检测使能寄存器、检测状态寄存器、比较数据锁存器、RAM读写控制器，其特点是，还包括一地址寄存器及一地址加一电路以及一测试数据表存储器；上述电路通过数据线相互连接；其中：

测试数据表用于写入各测试数据；