[发明专利]故障记忆体模组测试方法及其装置

权利要求书

1．一种故障记忆体模组测试方法，包括检测记忆体模组、故障资讯值入EEPROM等。其特征在于：所述检测记忆体模组(F002)是于确认记忆体模组(3)置于测试插槽(2)上之后，将其数据送至一缓冲区(12)，于该缓冲区(12)内与预先设定的数据相比对，以确定上述记忆体模组(3)是否故障。所述故障资讯植入EEPROM(F007)是将上述故障资讯传输并值入该记忆体模组(3)上原设有的电子式可编程式重覆记录读取记忆体(13)中未定义的空白区域，并可将该故障资讯显示于一预设的显示幕(15)上，以有效简化记忆体模组(3)的故障颗粒位置(F008)标示程序。

2．如权利要求1所述的故障记忆体模组测试方法，其特征在于：所述检测记忆体模组(F002)，由一参数设定(F001)设定不同记忆体模组(3)的种类、版本的测试参数，以增加其适用范围。

3．如权利要求1所述的故障记忆体模组测试方法所用的故障记忆体模组测试装置，包括中央汇流排、测试插槽、读取记忆体、控制元件，其特征在于：所述测试插槽(2)，由资料线Pd0～Pd7与前述中央汇流排(4)衔接，其上可供插置记忆体模组(3)；所述读取记忆体(13)，以位止线A0～A7与中央汇流排(4)相连接，其内储存有相关输出、入资料群组及判读软件；所述控制元件(11)，以传输线PL1与前述读取记忆体(13)衔接，以取出相关输出、入资料群组及判读软件，另以位址线A0～A7与中央汇流排(4)相连接，以将检测讯号送至前述读取记忆体(13)；一缓冲区，由资料线D0-D7与前述中央汇流排(4)衔接，以馈入记忆体模组(3)的侦测信号，并另以传输线PL2衔接前述控制元件，以导入读取记忆体传出的设定数据并加以比对，而后由控制元件经中央汇流排(4)可将故障资讯植入测试插槽(2)上的记忆体模组内。

4、如权利要求3所述的故障记忆体模组测试装置，其特征在于：其中所述的中央汇流排(4)是一单极中央处理器8051。

5、如权利要求3所述的故障记忆体模组测试装置，其特征在于：其中缓冲区是由逻辑积体电路(TTLIC)组成；

6、如权利要求3所述的故障记忆体模组测试装置，其特征在于：其中缓冲区另以资料线Pd0-Pd7分别连接一显示幕(15)与一键盘，以设定不同测试参数及显示测试结果。